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四探针法中,方块电阻就是表面电阻率吗?可以***用这种四探针法直接测试薄...
1、四探针直接测得的是表面电阻（率），俗称方块电阻，这比万用表准些。万用表直接测得的是电阻，要换算电阻率还要其他参数。四探针是基于四电极法，四电极法的最大特点是可以消除探针和待测物质之间的接触电阻。两电极不行。
2、四探针测试技术，简称为四探针法，是测量半导体电阻率最常用的一种方法。
3、用四探针电阻仪可以测导电薄膜的方块电阻，如果知道薄膜厚度就可得导电薄膜的电阻率。
4、测试程序控制四探针测试仪进行测量并***集测试数据，把***集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。
5、举例，高温四探针电阻率测试仪可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻，主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。
6、四探针测定的是表面电阻，一般用于薄膜方块电阻的测定；对于后尺寸的块体试样和lz的高气孔率、高电阻试样，建议***用体积电阻测定仪器，可以用高阻仪或LCR databridge等。另外，测试电极的制备也是很重要的。
为什么方阻的单位是欧姆每方不是欧姆?
1、欧姆——以国际欧姆作为电阻单位，它以等于109CGSM电阻的欧姆作为基础，用恒定电流在融冰温度时通过质量为14521克、长度为103厘米、横截面恒定的水银柱受到的电阻。
2、电阻的单位是欧姆，符号是Ω而不是ω。电阻的单位之所以是欧姆（Ω），为人们为了纪念科学家欧姆对物理学的贡献，尤其是在电学方面的贡献。
3、如果方阻值比较小，如在几个欧姆以下，因为存在接触电阻以及万用表本身性能等因素，用万用表测试就会存在读数不稳和测不准的情况。这时就需要用专门的用四端测试的低电阻测试仪器，如毫欧计、微欧仪等。
4、对有些导体（如电离气体）和半导体，欧姆定律明显地不再满足。它们的电压与电流之间的关系可用一曲线表示，这个关系曲线叫做伏—安特性曲线。
5、次方不是欧姆。次方和欧姆是两个不同的物理量，它们的单位也不同。次方，也称作平方，是一个数的二次幂；而欧姆，是电阻的单位，用符号Ω表示。
方块电阻和表面电阻
1、在表面电阻率的表示中有的单位用Ω...这个说法必须有前提，前提就是“单位方块下的电阻”。否则这个说法不对。因为Ω表示的是电阻；方块电阻和表面电阻率表示相同的对象。一般将表面电阻率解释成单位方块内的电阻。
2、方块电阻就是表面电阻率。可以四探针法直接测试薄膜的表面电阻率。计算公式：方块电阻（或表面电阻率）R = 532 V / I 。其中，V 是探针2-3 间的电位差；I 是探针1-4 间的电流。
3、方阻跟面电阻意思一样，只是叫法不同而已。通道电阻等于电流方向长度乘以宽度，再乘以方阻即可。方阻只跟膜厚和材料有关。
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